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Microscope NV à balayage
Le microscope à balayage NV est un instrument de mesure de précision quantique qui combine la résonance magnétique détectée optiquement (ODMR) des centres azote-lacune du diamant avec la technique de la sonde à balayage. Il trouve des applications dans la recherche en spintronique, en multiferroïques, en matériaux magnétiques 2D, en supraconducteurs, et bien plus encore.
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Pycnomètre à gaz EASY-G 1310M
Le pycnomètre à gaz EASY-G 1310M offre une précision de ±0,02 % et une répétabilité de ±0,01 % pour la mesure de la densité réelle. Il est doté de trois chambres d'échantillonnage, d'un ordinateur intégré de 13,3 pouces, d'un système de canalisation intégré et de deux modes de pression (négative/positive). Idéal pour les poudres, les batteries, le charbon, les sols et les produits alimentaires, il permet un contrôle qualité industriel rapide.
Pycnomètre à gaz EASY-G 1310M Analyseur de densité réelle haute précision avec chambre multi-échantillons Analyseur de densité réelleSend Email Détails -
Analyseur de surface spécifique et de porosimétrie EASY-V
Les produits de la série EASY-V utilisent la méthode du volume statique pour les tests de surface spécifique et l'analyse de la porosité. Déjà utilisés par de nombreuses universités et institutions de recherche à travers le monde, ils sont plébiscités par les utilisateurs. Entièrement automatisée, la série est dotée d'une interface intuitive et facile à prendre en main. Cette technologie, certifiée internationalement, atteint un niveau d'excellence mondial. Son rapport qualité-prix élevé garantit un retour sur investissement optimal, tandis que sa configuration flexible répond à une grande variété de besoins.
Analyseur de surface spécifique et de porosimétrie EASY-V analyseur de surface spécifique Mesure de la distribution de la taille des poresSend Email Détails -
Analyseur de surface spécifique et de porosité de la série Climber
Les analyseurs de surface spécifique et de porosité de la série Climber sont conçus pour des tests rapides, précis et stables, et permettent d'analyser jusqu'à 6 échantillons simultanément. Leurs principales caractéristiques sont les suivantes : Tests de surface spécifique et de distribution de la taille des pores des solides, des suspensions et des poudres. Analyse de la surface spécifique à partir de 0,0005 m²/g. Analyse de la taille des pores allant de 0,35 à 500 nm (analyse précise de 2 à 500 nm ; analyse de routine de 0,35 à 2 nm). Réussir un test BET en cinq points en moins de 20 minutes.
Analyseur de surface spécifique et de porosité de la série Climber Analyseur de contrôle indépendant à double module équipement d'analyse des matériaux de batterieSend Email Détails -
Spectromètre RPE haute fréquence en bande W900
Le W900 fonctionne à 94 GHz pour une résolution spectrale et orientationnelle supérieure dans les systèmes désordonnés. Il est doté d'un pont micro-ondes en bande W (93,5–94,5 GHz, 30 mW en continu/2 W en impulsion), d'un aimant supraconducteur sans six atomes avec des bobines de balayage de ±1000 Gauss et d'un résonateur à facteur de qualité élevé (≥ 4000, 93,7–94,4 GHz). Associé au logiciel EPR ProCT pour les expériences automatisées en continu et en impulsion (DEER/EDNMR/ENDOR), il permet une analyse quantique précise des matériaux et des radicaux.
Spectromètre RPE haute fréquence en bande W900 Aimant supraconducteur EPR Spectromètre RPE en bande W900Send Email Détails -
Spectromètres et résonateurs de la série EPR
La série EPR associe des spectromètres en bande X fonctionnant en mode continu (EPR300) et pulsé (EPR100) à des résonateurs de pointe (PW-4201-DR, facteur Q élevé, double mode). L'EPR100 délivre une puissance de 200 mW en mode continu/pulsé, un amplificateur de puissance à semi-conducteurs (SSPA) de 500 W et une résolution temporelle de 4 ns ; l'EPR300 offre un rapport signal/bruit de 10 000:1 et une extension en bande Q. Les résonateurs présentent une largeur à mi-hauteur (FWHM) de 400 MHz (PW-4201-DR), un facteur Q ≥ 18 000 (facteur Q élevé) et des fréquences bimodes. Cette série est idéale pour la science des matériaux, la chimie et la recherche quantique grâce à ses flux de travail automatisés et à la détection multi-noyaux.
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Spectromètre RMN intelligent à l'état liquide CAN400
Le CAN400 est doté d'un aimant supraconducteur de 9,39 Tesla à 400 MHz avec un alésage de 54 mm pour une homogénéité optimale. Sa console distribuée prend en charge 2 à 8 canaux RF, une résolution temporelle de 4 ns et une gestion de l'alimentation par logiciel. Équipé d'un passeur d'échantillons automatique à 72 emplacements, d'un écran tactile intelligent et d'une sonde multinucléaire, il permet des analyses rapides et automatisées. Idéal pour la chimie, l'énergie et l'industrie pharmaceutique, il offre des expériences in situ, un accès à distance et des applications polyvalentes, de la recherche sur les batteries au criblage de médicaments.
Spectromètre RMN intelligent à l'état liquide CAN400 Aimant supraconducteur de 400 MHz RMN sur console distribuéeSend Email Détails -
Microscope électronique à balayage à émission de champ Schottky ultra-haute résolution série SEM-X
La série SEM-X offre une résolution exceptionnelle (0,6 nm à 15 kV, 1,2 nm à 1 kV) grâce à l'imagerie basse tension, minimisant ainsi les dommages causés aux échantillons. Elle intègre une optique électronique « super-tunnel », des lentilles composées électrostatiques-électromagnétiques et une technologie de décélération à double faisceau pour des performances sans aberration. Parmi ses caractéristiques, on retrouve un mode basse pression (10-180 Pa), un sas de chargement compatible avec les baies de 8 pouces et des systèmes multi-détecteurs (UD-SE/BSE, LD, LVD) pour une analyse polyvalente. Idéale pour les semi-conducteurs, la science des matériaux et les sciences de la vie, elle offre automatisation et évolutivité pour les applications de recherche.
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Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisé DB550 Ga+
Le DB550 intègre une colonne FIB (faisceau d'ions focalisés) Ga+ et un MEB à émission de champ, doté d'une optique électronique « Super Tunnel » (lentille amagnétique à faible aberration), d'une résolution ionique de 3 nm à 30 kV et d'une résolution MEB de 0,9 nm à 15 kV. Il comprend un nanomanipulateur (précision ≤ 10 nm), un système d'injection de gaz (GIS unique, contrôle de température ±0,1 °C) et un sas de chargement compatible 8 pouces. Idéal pour la nanofabrication, l'analyse des défaillances des semi-conducteurs et la caractérisation des matériaux grâce à des flux de travail automatisés et des détecteurs extensibles (EDS/EBSD/STEM).
Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisé DB550 Ga+ Station de travail FIB-SEM intégrée Optique électronique à super tunnelSend Email Détails -
Microscope électronique à transmission à émission de champ
Le microscope électronique à transmission à émission de champ TH120 120 kV intègre un canon à émission Schottky, un commutateur automatique de faisceau parallèle/convergent et une lentille d'objectif symétrique. Il est doté d'une caméra CMOS haute résolution, d'une platine à 4 axes et d'un logiciel intégré. La division des espaces de travail réduit les interférences ; les flux de travail automatisés optimisent l'efficacité ; sa conception évolutive répond aux divers besoins de R&D.
Microscope électronique à transmission à émission de champ Microscope à transmission à émission de champ 120 kV TH120 Solution d'imagerie de laboratoire avancéeSend Email Détails -
Microscope électronique à balayage haute vitesse HEM6000
Pilote de numérisation haute vitesse Temps d'acquisition : 10 ns/pixel ; Vitesse d'acquisition maximale : 2 × 100 M pixels/s Système de filtration électronique Les signaux SE/BSE peuvent être commutés librement et le rapport de mélange des signaux est réglable. Système de déviation électrostatique haute vitesse Elle permet d'obtenir un mode grand champ haute résolution. Avec une taille de pixel de 4 nm, le champ de vision maximal atteint 32 μm × 32 μm. Technologie de décélération de l'étage d'échantillonnage Elle réduit la tension d'impact des électrons incidents et améliore simultanément l'efficacité de collecte des électrons recyclés. Objectif composé électromagnétique à immersion Le champ magnétique de la lentille d'objectif immerge l'échantillon, permettant d'obtenir une faible aberration et une haute résolution.
Microscope électronique à balayage haute vitesse HEM6000 MEB industriel pour l'inspection des semi-conducteurs MEB haute résolution basse tensionSend Email Détails
