Microscope métallurgique à longue distance de travail Omitek APO MT12/80/60/40L

Principaux avantages techniques

1. Système optique avancé

   
   

• Il est équipé d'objectifs apochromatiques à longue distance de travail. Par exemple, il comprend des objectifs 2x/NA 0,06/WD 34, 5x/NA 0,15/WD 45, 10x/NA 0,3/WD 34 et 20x/NA 0,3/WD 31, ainsi que des objectifs optionnels 50x/NA 0,45/WD 21 et 100x/NA 0,80/WD 6. Ces objectifs permettent d'obtenir des images nettes et sans aberration chromatique, même à fort grossissement, tout en conservant une grande distance de travail pour une utilisation flexible.

  
  

• L'utilisation d'un tube à longueur infinie et d'un système optique à correction à l'infini garantit une image nette et lumineuse sur tout le champ de vision. Aucun réglage optique fréquent n'est nécessaire pendant l'utilisation.

  
  

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2. Modes d'observation polyvalents

   Il prend en charge l'imagerie en champ clair, en champ sombre, en lumière polarisée (P) et en contraste interférentiel différentiel (DIC). Cette large gamme de modes d'imagerie permet une inspection précise de la topographie de surface, des défauts et de l'hétérogénéité des matériaux dans les puces semi-conductrices, les écrans plats, les cartes de circuits imprimés et les moules de précision. Par exemple, le mode DIC peut améliorer la détection des microfissures ou du délaminage des couches en optimisant la détection des contours.

1. Plateformes d'échantillonnage à grande échelle

   Des plateformes de 4, 6, 8, 10 et 12 pouces sont disponibles pour s'adapter à différentes dimensions de plaquettes, des petites puces semi-conductrices aux grands substrats d'écrans plats. La platine permet un déplacement manuel sur les axes X, Y et Z. La course de mise au point est de 50 à 76 mm, et la course de positionnement XY est de 210 × 210 mm. Des molettes de réglage fin garantissent une précision micrométrique, essentielle pour un positionnement stable des échantillons lors d'inspections critiques telles que l'alignement des stations de test.

   
   

2. Flux de travail intelligent et efficace

   La reconnaissance d'images par IA est intégrée au microscope pour automatiser la détection des défauts, la mesure et l'enregistrement des données. Associée à la suite logicielle d'Omitek, elle simplifie le contrôle qualité. Elle permet d'identifier instantanément les anomalies au niveau des joints de soudure, de l'uniformité des revêtements ou du collage des puces, réduisant ainsi les erreurs humaines et accélérant les cycles d'inspection.

   
   

3. Conception de qualité industrielle

   
   

• ÉclairageIl utilise un éclairage Köhler avec une source lumineuse LED de 10 W (luminosité réglable), offrant un éclairage uniforme et sans scintillement pour une imagerie homogène. Des modules de fond noir/DIC optionnels permettent d'améliorer encore le contraste.

  
  

• Système de mise au point: Les molettes de mise au point grossière/fine avec réglage par crans permettent un contrôle précis de l'axe Z (résolution : 0,001 mm), ce qui est crucial pour la résolution des caractéristiques nanométriques dans les semi-conducteurs avancés.

  
  

• DurabilitéConçu pour une utilisation industrielle 24h/24 et 7j/7, il possède des mécanismes robustes tels que des supports de platine anti-vibrations et des voies optiques étanches pour résister aux environnements de fabrication difficiles.

  
  

Applications industrielles

• Secteur des semi-conducteursUtilisé dans les opérations de stations de test (inspection de collage de puces, mesure du volume de pâte à braser), l'analyse des défauts d'encapsulation au niveau de la plaquette (WLP) et la caractérisation des dispositifs MEMS.

  
  

• Optoélectronique: Inspecte les lasers TO-can, les composants en boîtier papillon et les connecteurs de fibre optique.

  
  

• Électronique grand public: Détecte les défauts des panneaux FPD (LCD/OLED), contrôle la qualité des capteurs tactiles et inspecte la stratification du substrat PCB.

  
  

• Fabrication de précision: Vérifie l'étanchéité hermétique des condensateurs céramiques, l'assemblage des modules de filtrage et la texturation des moules haut de gamme.

  
  

Pourquoi choisir ce modèle ?

Contrairement aux microscopes métallographiques traditionnels, le MT12/80/60/40L allie un fort grossissement (jusqu'à 100x) à un espace de travail optimal grâce à sa très grande distance de travail. Il est ainsi indispensable pour les tâches exigeant précision et maniabilité, telles que le test de semi-conducteurs, le marquage manuel ou les opérations en salle blanche où le repositionnement des échantillons doit être parfaitement précis. Sa conception modulaire permet également une personnalisation avec des accessoires comme des platines motorisées, des caméras haute résolution et des logiciels d'analyse de données, préparant ainsi le terrain pour les futures lignes d'inspection automatisées.

Maintenance et assistance

Omitek propose un service après-vente complet :

• Certification d'étalonnage des composants optiques pour garantir la précision métrologique.

  
  

• Programmes de formation sur le fonctionnement des logiciels, notamment l'analyse d'images et la configuration des algorithmes d'IA.

  
  

• Disponibilité rapide des pièces de rechange pour les composants critiques (lentilles d'objectif, modules d'éclairage).

  
  

Conclusion

Le microscope métallurgique à longue distance de travail APO MT12/80/60/40L redéfinit l'inspection de précision des composants de grande valeur et à cavités multiples. Grâce à l'association d'une optique de pointe, d'une automatisation intelligente et d'une robustesse industrielle, il aide les fabricants à atteindre un contrôle qualité zéro défaut dans les secteurs des semi-conducteurs, de l'optoélectronique et des procédés de fabrication avancés.

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