Micromètre numérique haute vitesse avec sortie de données
Ce micromètre numérique est doté d'une vis micrométrique haute vitesse (vitesse d'avance quatre fois supérieure à celle du modèle standard), d'une résolution de 0,001 mm et permet l'exportation des données vers des systèmes statistiques. Adapté à la mesure de pièces de précision, il intègre des alertes de vitesse de proximité et des fonctions de gestion des dates d'étalonnage pour une efficacité opérationnelle accrue.
Caractéristiques principales : protection IP65, encodeur ABS, gestion automatique de l’alimentation et compatibilité avec le logiciel MeasurLink. (Traduit en anglais) Ci-dessous, une description détaillée du produit. (500 mots en anglais)
Catégorie | Nom du produit | Modèle |
|---|---|---|
Micromètres d'extérieur (numériques) | Micromètre numérique ultra-précis | MDH-25MC |
Micromètre numérique de haute précision QuantuMike | Série MD-E | |
Micromètre numérique résistant au liquide de refroidissement | MDC-25~100MX/MXT/PX/PXT | |
Micromètre numérique résistant au liquide de refroidissement | MDC-125~300MX | |
Micromètre numérique extérieur | MDC-MB | |
Micromètre numérique extérieur | MDC-25SX | |
Micromètre rapide Quickmike | MDQ-MX | |
Micromètre numérique à force réglable | CLM | |
Micromètre extérieur à avance progressive numérique | OMV-MX | |
Micromètre d'extérieur numérique avec enclume remplaçable | OMC-MX/MB | |
Micromètres d'extérieur (mécaniques) | Micromètre extérieur | M300 |
Micromètre d'extérieur / Micromètre à cliquet | M317~M327 | |
Micromètre à levier | M110-OM | |
Lecture du compteur à l'extérieur du micromètre | M800 | |
Micromètre d'extérieur à enclume remplaçable | OMC | |
Micromètre d'extérieur à enclume coulissante | OMS | |
Micromètre à enclume coulissante léger/robuste | OMS1-P / OMS2-P | |
Micromètre extérieur à cadran | OMD | |
Micromètres à usage spécial | Micromètre numérique de type pied à coulisse | OMP-MX / OMP |
Micromètre à filetage à enclume fixe | TMS | |
Micromètre à filetage avec enclume remplaçable | TMC-MX / TMC | |
Micromètre à denture d'engrenage | GMA-MX | |
Micromètre à denture d'engrenage | GMA / GMA-K | |
micromètre à engrenages | GMB-MX | |
micromètre à engrenages | GMB | |
Micromètre à denture d'engrenage à avance progressive | PDM-MX/Q CLM-DKX | |
Micromètre à denture d'engrenage à avance progressive | PDM-B | |
Micromètre d'épaisseur de feuille à alimentation progressive | PPM-B | |
Micromètre d'épaisseur de paroi du boîtier | PMU-MX/MB / PMU | |
Micromètre d'épaisseur de cadran | PMM | |
Micromètre d'épaisseur de paroi à bille unique | BMD-MX / BMS / BMS-K | |
Micromètre à double bille pour épaisseur de paroi | BMD-MX / BMD / BMD-X | |
Micromètre d'épaisseur de paroi à une ou deux colonnes | BMB-MX / BMB / BMB-K | |
Micromètre cannelé | SPM-MX | |
Micromètre cannelé | SPM / CPM-K | |
Micromètre à pointe | CPM-MX | |
Micromètre à pointe | CPM-K | |
Micromètre à enclume en V | VM-MX/MXP | |
Micromètre à enclume en V | VM | |
Micromètre à lame à avance progressive | BLM | |
Micromètre à lame à avance progressive | BLM | |
Micromètre à jointure de boîte / Micromètre à roue | CSM | |
Micromètre de hauteur de sertissage | CHM-MX/QMX | |
Micromètre de hauteur de sertissage | CHM-MX/QMX | |
Limite micromètre | LMM | |
Micromètre à levier | IDM-R | |
Jauge à levier rapide | PSM-R | |
Jauge à levier rapide avec cadran externe | PSM-S | |
Micromètre à rainure | GVM-SNR/NR | |
QUICKmini Vérificateur rapide | PK-1012APX | |
Accessoires et options | Support magnétique | TG |
Plan optique parallèle | SUR | |
Surface optique plane | DE | |
Barre de mesure de force micrométrique | MB | |
Barre de mesure de force pour micromètre (pour micromètres à filetage) | MB | |
Barre de mesure de force pour micromètre (pour micromètres à enclume remplaçables) | MB | |
Dispositif de réduction 3:1 | - | |
Poignée moletée colorée / Bouchon de contrôle de vitesse | - | |
Support de micromètre | MS |
La série Mitutoyo QuantuMike MD-E représente une avancée révolutionnaire dans le domaine des micromètres numériques. Conçue pour les mesures de haute précision et à grande vitesse dans les environnements industriels les plus exigeants, elle est dotée d'une vis micrométrique haute vitesse offrant une avance quatre fois supérieure aux modèles conventionnels. Cet instrument réduit ainsi considérablement le temps de mesure tout en conservant une précision exceptionnelle. Le micromètre atteint une résolution remarquable de 0,001 mm, garantissant une acquisition de données fiable pour les mesures de précision les plus critiques dans des secteurs tels que l'aérospatiale, l'automobile et l'électronique. Sa construction robuste, conforme à la norme IP65, offre une protection supérieure contre la poussière et les liquides de refroidissement, assurant ainsi des performances constantes même dans les conditions d'atelier les plus difficiles.
L'une des innovations majeures de ce micromètre numérique réside dans son système d'encodeur ABS (absolu) intégré, qui élimine la nécessité d'une remise à zéro à chaque mise sous tension. Ceci permet non seulement d'éviter les erreurs de survitesse, mais aussi d'améliorer la fiabilité et la répétabilité des mesures.
L'appareil est doté d'une fonction intelligente d'avertissement de vitesse d'approche qui alerte les opérateurs lorsque la broche avance trop rapidement vers la pièce à usiner, minimisant ainsi les fluctuations de mesure potentielles et améliorant la fiabilité des résultats. De plus, la fonction intégrée de gestion des dates d'étalonnage rappelle proactivement aux utilisateurs les échéances d'étalonnage à venir, favorisant ainsi des pratiques efficaces d'assurance qualité et de gestion des instruments.
L'efficacité opérationnelle est encore améliorée grâce à une gestion automatique de l'alimentation qui préserve la durée de vie de la batterie, assurant jusqu'à environ 1,2 an de fonctionnement normal avec une seule pile SR44. Le grand écran LCD, facile à lire, offre des mesures claires quelles que soient les conditions d'éclairage. Pour l'intégration des données, le micromètre est doté d'un port de sortie numérique permettant une connexion aisée aux systèmes de contrôle statistique des processus (SPC) tels que MeasurLink, facilitant ainsi la collecte et l'analyse des données en temps réel à des fins de contrôle qualité. Alliant rapidité, précision et robustesse, la série Mitutoyo QuantuMike MD-E établit une nouvelle référence pour les instruments de mesure dimensionnelle modernes.
